掃描式電子顯微鏡(CE-SEM)

(Scanning Electron Microscope, SEM)

內容說明：
是一種通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的電子顯微鏡，顯微鏡電子束通常以光柵掃描圖案掃描。最常見的掃描電子顯微鏡模式是檢測由電子束激發的原子發射的二次電子（secondary electron）。可以檢測的二次電子的數量，取決於樣品測繪學形貌，以及其他因素。通過掃描樣品並使用特殊檢測器收集被發射的二次電子，創建了顯示表面的形貌的圖像。它還可能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，鑑定樣品的表面結構。

應用範圍：
奈米材料、金屬、陶瓷、薄膜等物體材料之顯微影像表面形貌觀察。
 

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